Kurzus nemzetközi vendég- és részidős hallgatóknak

Kar

Természettudományi Kar

Szervezet

TTK Fizikai Kémiai Tanszék

Kód

xpsk22em

Cím

Az XPS alapjai és felületkémiai alkalmazásai

Tervezett félév

Tavaszi

ECTS

3

Nyelv

Oktatás célja

A hallgató a) tudása - Ismeri a röntgen-fotoelektron spektroszkópia (XPS) alapvető fogalmait, összefüggéseit, és az ezekre alapozott alapvető mérési módszereket. - Ismeri a röntgen-fotoelektron spektroszkópia eszközeit és módszereit, valamint a megfelelő biztonságtechnikai ismereteket. Képes egy konkrét mérőberendezés kezelését elsajátítani. - Rendelkezik azokkal az ismeretekkel, amelyek lehetővé teszik számára a mérés megtervezését és a mérési eredmények számítógépes feldolgozását. b) képességei - Képes a röntgen-fotoelektron spektroszkópia gyakorlati alkalmazására. - Képes a mérési eredmények kiértékelésére, értelmezésére, dokumentálására. - Képes az elvégzendő munkafolyamatok sorrendjét átgondolni, a munkát megszervezni. c) attitűdje - A kémiai laboratóriumi munkája során környezettudatosan jár el, törekszik a kis környezetterheléssel járó módszerek alkalmazására. d) autonómiája és felelőssége - Munkája során képes önállóan végiggondolni alapvető szakmai kérdéseket, képes erről érdemi összeállításokat készíteni.

Tantárgy tartalma

A felületmódosítás és felületvizsgálat jelentősége. A röntgen-fotoelektron spektroszkópia elméleti alapjai (fotoeffektus, felületérzékenység, kémiai eltolódás), rövid története. Az XPS berendezés felépítése, számítógépes rendszere. Az ultravákuum technika alapjai. Fotoelektron spektrumok értelmezése: minőségi és mennyiségi elemzés, a kémiai állapotok meghatározása, réteges szerkezek vastagságának számítása. Speciális technikák alkalmazása: nagy mélységi felbontás (hard XPS), ionmaratás, szögfüggő felvételek, nagynyomású (near ambient pressure) XPS, röntgen-fotoelektron mikroszkópia. Az XPS alkalmazásai kutatási és ipari célokra.

Számonkérés és értékelés

Évközi számonkérés (Gy5)

Irodalomjegyzék

A tárgy honlapján megtalálható segédanyagok Berényi Dénes: Szilárdtestfelület-vizsgálatok új módszerei I, A szilárdtestkutatás újabb eredményei 5, Akadémiai Kiadó, Budapest, 1979. Brümmer, O., Heydenreich, J., Krebs, K. H., Schneider, H. G. (szerk.): Szilárdtestek vizsgálata elektronokkal, ionokkal és röntgensugárzással, Műszaki Könyvkiadó, Budapest, 1984. Varsányi Gy., Veszprémi T., Bertóti I.: Fotoelektronspektroszkópia, BME Mérnöki Továbbképző Intézet, 1985. Bertóti I., Marosi Gy., Tóth A. (szerk.): Műszaki felülettudomány és orvosbiológiai alkalmazásai, B+V Lap- és Könyvkiadó Kft., Budapest, 2003. Csanády A., Kálmán E., Konczos G. (szerk.): Bevezetés a nanoszerkezetű anyagok világába, ELTE Eötvös Kiadó, Budapest, 2009.

Kurzus szakjai